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薄膜測厚儀

簡要描述：薄膜測厚儀采用光譜干涉原理進行測量，具有非接觸、無破壞、快速等特點，可在真空環境使用；可與大行程工件臺配合，實現大面積膜厚自動測量。

  • 產品型號：
  • 廠商性質：生產廠家
  • 更新時間：2024-04-09
  • 訪  問  量：1676

詳細介紹

品牌其他品牌價格區間面議
產地類別進口應用領域醫療衛生,環保,化工,電子
產品名稱：薄膜測厚儀
主要技術指標：
   測量范圍（VIS）：15nm—100μm
   測量重復性（RMS）：0.086nm
   測量精度（與橢偏儀對比）：0.25nm
   測量層數：大于3層
   使用光源：鹵素燈；
入射角度：90°
   測試材料：透明或半透明薄膜材料；
   光斑尺寸：20μm—3mm（可選）
   測量時間：100ms—4ms；
   通信接口：USB2.0
產品特點：
采用光譜干涉原理進行測量，具有非接觸、無破壞、快速等特點；
可在真空環境使用；可與大行程工件臺配合，實現大面積膜厚自動測量。

薄膜測厚儀測試數據：

薄膜測厚儀設備組成：
測試主機、光纖、校正件、測量頭、夾持裝置、設備箱、手提電腦。
 

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